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        《承壓設備無損檢測 》 第1號修改單
        作者:不詳 發布日期:2018-09-04 8:54:43 瀏覽次數:
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        行業標準修改通知單

        NB/T 47013.3-2015

        《承壓設備無損檢測 3部分:超聲檢測》

        1號修改單

         

        本修改單經國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準,自2018年7月1日起實施。

         

        5.3.3.1.1改用新條文

           5.3.3.1.1 “直探頭選用一般應按表3的規定進行。在滿足5.3條規定的靈敏度及缺陷判定的基礎上,也可以選用其他型式的探頭,如雙晶直探頭或多晶直探頭(含板材厚度>60mm時)!

         

        5.3.9.2 第一行中更改質量分級級別:

        Ⅴ級”更改為“Ⅳ級”。

           

        ③ 表6更改為新表6:

        新表6  承壓設備用板材中部檢測區域質量分級

        等級

        最大允許單個缺陷指示面積S或當量平底孔直徑D

        在任一1m×1m檢測面積內缺陷最大允許個數

        單個缺陷指示面積或

        當量平底孔直徑評定范圍

        最大允許個數

        TI

          雙晶直探頭檢測時

        S50mm2

        雙晶直探頭檢測時20mm2S50mm2

        10

         或單晶直探頭檢測時

        D5mm+8dB

        或單晶直探頭檢測時

        5mmD5mm+8dB

        I

        雙晶直探頭檢測時S100mm2

        雙晶直探頭檢測時50mm2S100mm2

        10

        或單晶直探頭檢測時

        D5mm+14dB

        或單晶直探頭檢測時

        5mm+8dBD5mm+14dB

        II

        S1000mm2

        100mm2S1000mm2

        15

        III

        S5000mm2

        1000mm2S5000mm2

        20

        IV

        超過級者

        注:使用單晶直探頭檢測并確定5.3.7.1 b所示缺陷的質量分級(T I級和級)時,與雙晶直探頭要求相同。

         

        ④ 表7更改為新表7:

         

         

        新表7  承壓設備用板材邊緣或剖口預定線兩側檢測區域質量分級

        等級

        最大允許單個缺陷指示長度Lmax  

        最大允許單個缺陷指示面積S

        當量平底孔直徑D

        在任一1m檢測長度內最大允許缺陷個數

        單個缺陷指示長度L

        當量平底孔直徑評定范圍

        最大允許個數

        TI

        20mm

        雙晶直探頭檢測時

        S50mm2

        雙晶直探頭檢測時

        10mmL20mm

        2

        或單晶直探頭檢測時

        D5mm+8dB

        或單晶直探頭檢測時

        5mmD5mm+8dB

        I

        30mm

        雙晶直探頭檢測時

        S100mm2

        雙晶直探頭檢測時

        15mmL30mm

        3

        或單晶直探頭檢測時

        D5mm+14dB

        或單晶直探頭檢測時

        5mm+8dBD5mm+14dB

        II

        50mm

        S1000mm2

        25mmL50mm

        5

        III

        100mm

        S2000mm2

        50mmL100mm

        6

        IV

        超過Ⅲ級者

        注:使用單晶直探頭檢測并確定5.3.7.1 b所示缺陷的質量分級(TI級和級)時,與雙晶直探頭要求相同。

         

        ⑤ 將5.6.4.1條中的“軸向”二字刪除。

           

        ⑥ 將5.6.4.2條中的“軸向”二字刪除。

         

        ① 8.4.6.2.3.1  b)改用新條文

           8.4.6.2.3.1  b)“工件厚度t>15mm時,缺陷指示長度應大于等于t/2或15mm取大者,但最大為30mm)。

         

        ②  附錄J的表J.1更改為新表J.1:

                              新表J.1  RB-L系列對比試塊尺寸(推薦)                     單位為mm

        RB-L編號

        工件厚度t

        試塊厚度T

        橫孔深度位置

        橫孔直徑

        RB-L-1

        6~10

        8

        4

        2.0

        RB-L-2

        10~16

        14

        4、10

        2.0

        RB-L-3

        16~24

        20

        5、10、15

        2.0

        RB-L-4

        24~36

        30

        5、10、20、25

        2.0

        RB-L-5

        36~50

        45

        5、10、20、30、40

        2.0

        注:工件厚t大于50mm時,試塊寬度應滿足6.3.10.1的要求,橫孔深度位置最小可為10mm,深度間隔不超過20mm,試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。

         

        ⑨ 附錄J的圖J.1更改為新圖J.1:

         

         

         

        a RB-L-1試塊

         

        b) RB-L-2試塊

         

        c) RB-L-3試塊

         

         

         

        d) RB-L-4試塊

         

        e) RB-L-5試塊

        新圖J.1  RB-L系列對比試塊示意圖(推薦)

         

        ⑩ K.2.1改用新條文

            K.2.1 “對比試塊RB-C的形狀和尺寸見圖K.1。為方便試塊加工和靈敏度調節,也可使用如表K.1和圖K.2的試塊。

         

        11  附錄K的K.1后補充表K.1和圖K.2。

              

         

         

         

                            K.1  RB-C系列對比試塊尺寸(推薦)                    單位為mm

        RB-C編號

        工件厚度t

        試塊厚度T

        橫孔深度位置

        橫孔直徑

        RB-C-1

        ≥6~10

        8

        4

        2.0

        RB-C-2

        >10~16

        14

        4、10

        2.0

        RB-C-3

        >16~24

        20

        5、10、15

        2.0

        RB-C-4

        24~36

        30

        5、10、20、25

        2.0

        RB-C-5

        >36~50

        45

        5、10、20、30、40

        2.0

        注:工件厚度t大于50mm時,試塊寬度應滿足6.3.10.1的要求,橫孔深度位置最小可為10mm,深度間隔不超過20mm,試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。

         

         

        a RB-C-1試塊

         

        b) RB-C-2試塊

         

         

         

         

         

         

         

        c)RB-C-3試塊

         

        d) RB-C-4試塊

         

        e) RB-C-5試塊

        圖K.2  RB-C系列對比試塊示意圖(推薦)

         

        12 附錄K的表K.1序號更改為表K.2。

         

        13 K.3.2改用新條文

           K.3.2“探頭折射角(K值)的選擇見表25,探頭標稱頻率可按表K.2選擇。

         

        14 K.5.1改用新條文

           K.5.1“檢測面的選擇按K.2進行。

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         


         

        行業標準修改通知單

        NB/T 47013.11-2015

        承壓設備無損檢測 11部分:X射線數字成像檢測

        1號修改單

         

        本修改單經國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準,自2018年7月1日起實施。

         

        ① 第2章“GB/T 23903 射線圖像分辨力測試計”后補充新條文:

        “GB/T 26592 無損檢測儀器 工業X射線探傷機性能測試方法

        GB/T 26594 無損檢測儀器 工業用X射線管性能測試方法

          第2章“NB/T47013.2 承壓設備無損檢測 第2部分:射線檢測”后補充新條文:

          “JB/T 11608 無損檢測儀器 工業用X射線探傷裝置

         

        ② 4.1.1條中更改用語:

        “并取得《放射工作人員證》更改為“并按照有關法規的要求取得相應證書”。

         

        ③ 4.2條中更改用語:

        “檢測系統”更改為“檢測系統與器材”。

         

        ④ 4.2.1.2條后補充新條文,4.2.1.3 :

        采用的X射線機,其性能指標應滿足JB/T11608的規定,使用性能測試條件及測試方法參考GB/T26594 和GB/T26592的規定!

         

        ⑤ 4.2.2.4 條改用新條文:

        4.2.2.4“壞像素要求:面陣列探測器3×3像素區域中,相鄰壞像素不得超過3個;成行(成列)壞像素不得超過3個,且不得位于距離中心位置200像素以內;成像區域內壞像素不超過總像素的1%。線陣列探測器中,相鄰的壞像素不允許超過2個。探測器系統供應商應提供出廠壞像素表和壞像素校正方法!

         

        ⑥ 在4.2.2.5后補充新條文,4.2.2.6和4.2.2.7:

        “4.2.2.6探測器系統性能指標如:壞像素、對比靈敏度、分辨率、信噪比、線性范圍、厚度寬容度、殘影等,其測試條件及測試方法按相應國家或行業標準的規定執行!

        “4.2.2.7探測器系統質量合格證中至少應給出探測器類型、轉換屏參數(如有)、像素尺寸、成像面積、射線能量適用范圍、量子轉換效率、填充因子、采集幀頻等技術參數!

         

        ⑦ 4.2.4.6條中更改用語:

        根據評定結果”更改為“自動”。

        ⑧ 4.2.6條改用新條文:

        4.2.6 “像質計

        4.2.6.1本部分采用的像質計包括線型像質計和雙線型像質計。

        4.2.6.2線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.1的規定,雙線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.5的規定。

         

        ⑨ 4.2.6條后補充新條文,4.2.7、4.2.8:

        “4.2.7檢測系統使用性能

        應結合被檢工件和本部分要求,根據檢測系統各部分性能指標選擇合適檢測設備和器材,并提供滿足上述設備和器材性能指標及系統軟件功能的測試證明文件。檢測系統的使用性能應滿足本部分規定的圖像質量要求!

        “4.2.8校準或運行核查

        4.2.8.1  每年至少對探測器系統性能中的壞像素、線性范圍、信噪比、厚度寬容度、殘影等進行1次校準并記錄。

        4.2.8.2  每年至少應對使用中的曝光曲線進行1次核查。當射線機重要部件更換或經過修理后,應重新制作曝光曲線。

        4.2.8.3  每3個月至少對探測器壞像素進行1次核查,并記錄和校正。

        4.2.8.4  存在如下情況應進行系統分辨率核查并記錄,核查方法按附錄A執行。

        a)檢測系統有改變時;

        b正常使用條件下,每3個月應至少核查一次;

        c)在系統停止使用一個月后重新使用時。

         

        ⑩ 5.4.1.2條后補充新條文,5.4.1.3:

        “由于結構原因不能按照5.4.1.1或5.4.1.2規定的間隔角度進行多次透照時,經合同雙方商定,可不再強制限制5.4.1.1或5.4.1.2規定的間隔角度,但應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍,并保證圖像評定范圍內信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求,并在檢測報告中對有關情況進行說明!

         

        11 5.4.2條改用新條文:

        5.4.2“不要求100%檢測的小徑管環向焊接接頭的透照次數由合同雙方商定,并保存相關記錄。

         

        12 將6.1.1.3條中的“線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.1的規定”刪除。

         

        13 將6.1.1.4條中的“雙線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.5的規定”刪除。

         

        14 6.1.2.1.2條中更改用語:

        “雙壁單影透照時”更改為“雙壁單影或雙壁雙影透照時”

         

        15 6.1.3.1條改用新條文:

        6.1.3.1“雙線型像質計應放在射線機側。當采用雙壁單影透照方式時,可放在探測器側!

         

        16 6.1.3.2.1條中更改用語:

        被檢測區長度的1/4左右位置更改為“靠近被檢焊縫”。

         

        17 在6.1.4.2條句尾補充“對于小徑管雙壁雙影透照方式,透照厚度應取管子直徑!

         

        18 在6.1.4.3條句尾補充:

        “注:對于使用裂紋敏感性材料或標準抗拉強度下限值Rm≥540MPa高強度材料進行檢測時,不得采取補償!

         

        19 6.2.5.2條第一行中更改用語:

        透照規格”更改為“透照參數”。

         

        20 在A.5.1 a)條句尾補充:

        “在條件受限情況下,可適當減小F,但應保證檢測系統的幾何不清晰度不大于探測器像素尺寸的5%!

         

        21 在A.5.2后補充新條文,A.6:

        “系統分辨率應滿足表4或表5的要求,用于小徑管雙壁雙影透照方式檢測時,表中透照厚度應取2倍管子壁厚!

         

        22 D.1中第5行中更改用語:

        “P—探測器像素大。μm)”更改為:“P—分辨力(μm);

        注:測量系統歸一化信噪比時,P為系統分辨力;測量圖像歸一化信噪比時,P為圖像分辨力”。

         

        23 D.2條改用新條文:

        D.2“信噪比測量是指在均勻區域(圖像信噪比指熱影響區或焊縫附近的母材、無缺陷處),取面積不小于20像素×55像素的矩形區,計算此區域的均值和標準差,按照信噪比定義得到測量信噪比SNRm!

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

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